Introduction
In many cases powder samples are analyzed, but there is also the possibility of
examining alteration layers or small pieces of stone, brick etc. without prior grinding.
For more detailed identification of clay minerals, oriented aggregates (OA) are
prepared, and for very small sample amounts there are zero-background sample
holders (silicon crystal), which do not produce reflections by themself. As the
samples do not suffer any alteration during X-ray analysis, they can be used
afterwards for other types of analysis such as thermogravimetry, nitrogen sorption,
electron microscopy, etc.

Preparation of powder samples
For very small quantities of powder samples zero-background sample
holders (silicon crystal) can be used, which do not produce any
reflections by themselves. The zero-background (A) is held in the sample
holder (B) by a clip (C). A spatula is used to homogeneously apply the
sample on the zero-background sample holder
https://wpd.ugr.es/~drxcitpa/wp-content/uploads/2021/02/Samp...

Кристаллическая модификация - RU2666368C2
Google Patents
https://patents.google.com › patent
Твердый остаток в каждом из экспериментальных сосудов отбирали пипеткой Пастера в разрезанный кремниевый держатель с нулевым фоном и образцы анализировали ...


Решение Коллегии Евразийской экономической ...
garant.ru
https://www.garant.ru › products › ipo › prime › doc
Влияние толщины и прозрачности образца. При использовании в режиме отражения метод РПД предпочтительно применяют для образцов "бесконечной толщины". Для минимизации эффектов прозрачности целесообразно использование недифрагирующих подложек (держатель с нулевым фоном), например, пластинки монокристаллического кремния, вырезанных параллельно плоскостям решетки 510.

Преимуществом работы в режиме отражения является существенное уменьшение ошибок, связанных с высотой пробы и прозрачностью образца.